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S-TEST/16 Fab是一种用于具有数字接口的传感器的紧凑型系统级测试解决方案（SLT）。它可用于测试和表征多达16个IO引脚的数字传感器。该系统专为大规模生产环境和测试平台而设计。它允许轻松扩展测试能力，并可以与各种传感器设备处理系统结合使用。该设备可容纳16个S-TEST通用测试板（UTB），每个测试板可为4个传感器提供接口资源。系统主通信接口为底盘通信控制器（CCB/ETH15）。它提供TCP/IP连接、系统校准功能以及外部触发输入和输出。

该SLT解决方案具有很高的测试容量，能够同时测试多个传感器，从而提高测试效率。

每张UTB卡可以连接4个传感器，这意味着在单个测试系统中可以轻松扩展测试范围，满足大规模传感器生产测试的需求。

以太网接口卡（ETH），用于系统通信、测试和固件加载以及自校准：

以太网接口卡提供了高速、可靠的系统通信能力，确保测试数据能够实时、准确地传输。

通过以太网接口卡，还可以方便地进行固件加载和自校准操作，提高测试系统的灵活性和可维护性。

SLT解决方案集成了电源模块，为传感器提供稳定、可靠的电力供应。

LED系统状态指示灯能够直观地显示测试系统的当前状态，如测试进行中、测试完成、故障等。

集成风扇能够确保测试系统在长时间运行过程中保持稳定的温度环境。

该SLT解决方案支持带时间戳的并行采样功能，能够同时采集多个传感器的数据，并记录每个数据点的时间戳。

S-TEST（BSI）风扇单元（1HE）

传感器批量生产测试

在温度控制开关柜中部署，实现从小批量测试到数百个传感器高度并行测试的灵活切换，满足MEMS传感器、工业传感器等大规模生产需求。

传感器特性与功能验证

支持压力、加速度、光学、声学等传感器的测试，确保产品性能符合设计标准。

质量保证与校准

通过集成化校准功能，简化测试流程，降低维护成本，适用于高精度计量和工业应用场景。