产品介绍
该NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其硅探测器，准确捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于小光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选的功率测量功能等特征，且可在连续或kHz脉冲模式下工作，非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行分析。
性能特点
- 位置和光束大小达到亚微米级精度
- 易于使用的集成软件包
- 一个软件包中包含单个和多个光束分析标准
- 可软件控制的扫描速度（更新率）
- 采用峰值-连接算法用于脉冲光束测量
- USB2或PCI接口和数字探头控制
- 12位数字化信号
- 采用ActiveX自动化与其他软件包通信
- 可选硅和锗扫描头的功率计
- 可提供硅、锗和热释电探测器
技术参数
产地：美国
传感器类型：Silicon
光谱范围：190-1100 nm
狭缝尺寸：1.8 µm
孔径尺寸：3.5 mm
光束尺寸：7 µm - 2.3 mm
扫描头尺寸：83 mm
功率范围：10 nW - 10 W
通信：USB 2.0
软件：NanoScan Standard
兼容的光源：CW, Pulsed >25 kHz
津公网安备12010102000946号
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津ICP备13001985号-1
